• Главная
  • Физика приборов
  • Подложки для тонкопленочных схем
  • Технология интегральных схем
  • Аппаратура

Главное меню
  • Главная
  • Физика приборов
  • Подложки для тонкопленочных схем
  • Технология интегральных схем
  • Аппаратура
  • Интегральные схемы
Главная

Последние новости

  • Электронный зонд
  • Растровые электронные микроскопы в микроэлектронике
  • Источники загрязнения органическими веществами
  • Неправильное измерение давления
  • Десорбированный диск

Самое популярное

  • Резонансный усилитель
  • Концентрация
  • Электрическая изоляция
  • Работа машины
  • Рабочая температура

Повышение функциональной гибкости интегральных схем

Интегральные схемы — тонкопленочные, толстопленочные, монолитные полупроводниковые и др. - - могут быть описаны в общем виде, но весьма точно в терминах физических свойств и размеров плоской подложки. Пусть подложка расположена в координатной плоскости х, у и пусть z — направление, перпендикулярное к плоскости подложки (рис. 12). Пусть Р означает физические свойства в любой точке подложки, причем P(z) есть функция Р в направлении z при заданных х и у, а Р у) есть функция Р в плоскости, определяемой фиксированным значением z.
Современные ИС изготавливаются путем чередования Р (г) -процессов (материалов) и Р(х, у) -процессов (конфигураций). Это обусловлено тем фактом, что использование трафаретов и шаблонов связано с двухмерными процессами и этап Р(х, y)i определяющий геометрию, как правило, выполняется перед каждым очередным Р (z) -процессом. Если бы эти процессы могли быть разделены так, чтобы большинство этапов P(z) выполнялось до этапов Р(х, у), то можно было бы заготавливать и хранить подложки — полуфабрикаты с последующим окончательным превращением их в функциональные схемы.
 

Транзистор и резистор

Первый метод (рис. 13) позволяет, например, сформировать изолированные транзистор и резистор после того, как получена многослойная полупроводниковая структура (рис. 13,а), состоящая из четырех полупроводниковых слоев, изолированных от поликристалличёской подложки слоем S.O2. Такая структура может быть получена на кремнии методом эпитаксиального выращивания. Теперь вместо серии маскировок, используемых обычно при изготовлении модуля, для получения структуры, показанной на рис. 13,6, используется единый процесс трехмерного формирования.
 

Диоды и конденсаторы

Пусть, например, имеется ячейка с сопротивлением насыщения 60 ом, сопротивлением между коллекторными контактами 120 ом и емкостью коллекторного перехода 1,5 пф. На рис. 14 представлена схема простого вентиля на 3 входа, на рис. 15 показана матрица из 24 элементов с соответствующими соединениями, обеспечивающими эту схему. Даже если каждая ячейка вместе с ее изоляцией будет занимать площадь 125X125 мк, то размеры всей схемы будут всего 0,75X0,5 мм. Однако это — только пример, и мы вполне можем рассчитывать на то, что будем иметь дело с гораздо большим числом более мелких ячеек (скажем, размером 50 мк или меньше, в зависимости от усовершенствования техУнологии). Рис. 15 иллюстрирует только принцип, однако, следуя этому принципу, можно разрабатывать более сложные схемы, включающие диоды и конденсаторы. Основным принципом является то, что для одного «эквивалентного компонента» используется всегда несколько ячеек.
Выбор конфигурации зависит в основном от той функции, которую должно выполнять изготавливаемое устройство, однако следует учитывать и возможность избыточности.
 

Пьезоэлектрический усилитель

Одним из наиболее интересных приборов, основанных на использовании непрерывного взаимодействия, является пьезоэлектрический усилитель. В этом приборе дрейфующие электроны взаимодействуют с акустическими фононами пьезоэлектрического кристалла и усиление растет по мере дрейфа электронов через кристалл.
 
Еще статьи...
  • Технология полупроводниковых схем
  • Конструирование полупроводниковых интегральных схем
  • Изготовление фотошаблонов
  • Окисление кремния

<< Первая < Предыдущая 21 22 23 24 25 26 27 Следующая > Последняя >>

Страница 25 из 27


.