• Главная
  • Физика приборов
  • Подложки для тонкопленочных схем
  • Технология интегральных схем
  • Аппаратура

Главное меню
  • Главная
  • Физика приборов
  • Подложки для тонкопленочных схем
  • Технология интегральных схем
  • Аппаратура
  • Интегральные схемы
Главная Технология интегральных схем Меры предосторожности при проведении технологических процессов

Меры предосторожности при проведении технологических процессов

На протяжении всего технологического цикла изготовления тонких пленок, резистивных или емкостных, очень существенным фактором является чистота. Необходимо производить тщательную очистку стекла; некоторые методы очистки описаны в приложении. Очень важно соблюдать чистоту рабочих помещений или мест во избежание неудач, особенно при изготовлении конденсаторов: если в резисторной пленке инородное Тело может вызвать лишь небольшую зазубринку, то в конденсаторе оно может привести к короткому замыканию пластин.
Каждый процесс должен строиться таким образом, чтобы число операций, осуществляемых вручную, было сведено к минимуму, даже если операторы носят чистую одежду, включая перчатки и шапочки. Флюсы, применяемые для пайки, должны быть бескислотными, а их остатки необходимо удалять соответствующими растворителями.
Процесс селективного травления
II стадия. Подложка с золотой пленкой, нанесенной поверх нихрома (I стадия), покрывается фоточувствительным лаком. Затем на поверхность подложки накладывают негатив с изображением проводников и облучают ультрафиолетовым светом. Лак проявляется в парах трихлорэтилена и обмывается горячим (50° С) три-хлорэтиленом. Участки незащищенной лаком золотой пленки травятся в растворе следующего состава: 25 г йодистого калия, 5 г иода, 100 мл воды при температуре 50° С в течение приблизительно 30 сек. Оставшийся лак удаляется тампоном, смоченным в хлороформе.
После этого подложка промывается в очищающем растворе на основе деионизированной воды и в ультразвуковой ванне. Затем следует промывка в ванне с изо-пропиловым спиртом и, наконец, сушка в атмосфере изо-пропилового спирта.
III стадия. Подложка покрывается двумя слоями фоточувствительного лака, причем второй слой наносится, пока первый еще не потерял клейкости. Негатив резистора накладывают на покрытую подложку, экспонируют в ультрафиолетовых лучах и проявляют, как на II стадии. Затем лаковое покрытие подвергается отжигу при 200° С в течение 10 мин для обеспечения максимальной стойкости при травлении. Незащищенный нихром травится насыщенным раствором сернокислого церия в 35 мл HN03 с добавлением 65 мл воды. Время травления приблизительно 40—60 сек, в зависимости от толщины пленки. Оставшийся лак удаляют, как на II стадии,но с ббльшим трудом вследствие предшествовавшего отжига.
 


.