• Главная
  • Физика приборов
  • Подложки для тонкопленочных схем
  • Технология интегральных схем
  • Аппаратура

Главное меню
  • Главная
  • Физика приборов
  • Подложки для тонкопленочных схем
  • Технология интегральных схем
  • Аппаратура
  • Интегральные схемы
Главная Технология интегральных схем Определенность величины логического перепада

Определенность величины логического перепада

Определенность величины логического перепада обеспечивается постоянством соотношения сопротивлений R и RK (с точностью ±5%), но осложняется температурной зависимостью напряжения на резисторе R и изменениями потенциала эмиттеров в зависимости от формы входного сигнала. Эту последнюю зависимость можно скомпенсировать, выбирая RK\Данная система допускает сочетание с длинными линиями; один из вариантов показан на рис. 7,6. Такая структура полезна в цепях задержки, для уменьшения ударного возбуждения в длинных межсоединениях, а также в линиях, соединяющих далеко расположенные узлы аппаратуры. На рис. 7,в показан другой вариант структуры, где в линии задержки с сосредоточенными постоянными использовано параллельное, а не последовательное согласование.Структура элемента такова, что он имеет в принципе симметричную характеристику помехоустойчивости при одинаковых и определенных импедансах, не зависящих от логического состояния. Влияние температуры на логические уровни, помехоустойчивость и время задержки ячейки весьма незначительны, а емкостная нагрузка влияет на передние и задние фронты выходного напряжения одинаково.
Все указанные свойства обусловлены достаточной сложностью элемента, однако его реализация в настоящее время возможна как с технической, так и с экономической точек зрения.
 


.