• Главная
  • Физика приборов
  • Подложки для тонкопленочных схем
  • Технология интегральных схем
  • Аппаратура

Главное меню
  • Главная
  • Физика приборов
  • Подложки для тонкопленочных схем
  • Технология интегральных схем
  • Аппаратура
  • Интегральные схемы
Главная Технология интегральных схем

Окисление кремния

Кремниевая пластина вначале шлифуется с помощью абразива для удаления следов резки и других крупных неровностей, а затем полируется. Обычно вместо механической полировки применяется "электролитическая. Получается очень гладкая пластинка толщиной примерно 0,1 мм. После; этого она обезжиривается и промывается чистой водой. Следующим этапом является выращивание слоя двуокиси кремния на пластине.

Подробнее...

 

Результаты испытаний

Были изготовлены пленки из различных металлов, выдерживающие все эти испытания, а также допускающие легкое и чистое травление. При условии, что процессы изготовления фотооритииалов и негативов, а также фотолитография были проведены с большой точностью (иначе невозможно изготовить качественные резисторы), получались резисторы с допуском менее 2%. Эту цифру можно было бы улучшить оптическим совмещением экспозиционных шаблонов.

Подробнее...

 

Методы монтажа и соединений

Интегральные схемы обычно монтируются в многовыводных герметичных корпусах (например, ТО-5), причем соединения между контактными площадками и выводами на ножке осуществляются методом термокомпрессии. Внешние выводы расположены либо по окружности на цоколе круглого корпуса, либо по краям прямоугольного «плоского корпуса».
Высокая стоимость оборудования и необходимость быстрой реализации ИС, выполняющих специальные функции, обусловили использование многомодульных ИС (multi—chip), т. е. комплекта полупроводниковых модулей, расположенных в одном корпусе. Каждый из модулей содержит гораздо меньше компонентов, чем одна монолитная ИС, в предельном случае они могут содержать по одному компоненту.

Подробнее...

 

Разработка полупроводниковых интегральных схем

Другим основным фактором, влияющим на выбор технологии, является высокая стоимость оборудования, необходимого для изготовления ИС. В тех случаях, когда важна функциональная гибкость или требуется ограниченное число экземпляров, можно попытаться уменьшить расходы на оборудование, используя индивидуальную обработку ИС на некоторых этапах их изготовления.
Таким образом, в настоящее время при проектировании ИС исходят в большей степени из технологических возможностей, чем из каких-либо общих ограничений, свойственных микроэлектронике.

Подробнее...

 

Эпитаксия

В настоящее время большинство полупроводниковых ИС изготавливается из кремния, поверхностный слой которого выращен эпитаксиальным способом; при этом упрощаются циклы диффузии и методы изоляции элементов, а также ослабляются различные паразитные влияния. Эпитаксия осуществляется нагреванием кремниевой пластины (например, р-типа с удельным сопротивлением 5 ом см) в трубчатой печи при температуре примерно 1 200° С.
Нагревание производится в атмосфере водорода. При добавлении в него газообразного тетрахлорида кремния последний разлагается и на кремниевую пластину осаждается кремний.

Подробнее...

 
Еще статьи...
  • Транзисторная логика с резистивно-емкостными связями (РЕТЛ)
  • Механизм осаждения
  • Межсоединения на пластине
  • Монтаж в корпусе

<< Первая < Предыдущая 1 2 3 4 5 6 7 8 Следующая > Последняя >>

Страница 5 из 8


.